Différence entre l'AFM et STM

AFM vs STM

L'AFM fait référence au microscope à force atomique et STM fait référence au microscope à tunneling à balayage. Le développement de ces deux microscopes est considéré comme une révolution dans les champs atomiques et moléculaires.

Lorsque vous parlez d'AFM, il capture des images précises en déplaçant une pointe de taille nanométrique sur la surface de l'image. Le STM capture des images à l'aide de tunneling quantique.

Des deux microscopes, le microscope à tunneling à balayage a été le premier à être développé.

Contrairement au STM, la sonde établit un contact direct avec la surface ou calcule la liaison chimique naissante en AFM. Les images STM indirectement en calculant le tunneling de degré quantique entre la sonde et l'échantillon.

Une autre différence qui peut être vue est que la pointe en AFM touche la surface touche doucement la surface alors que dans STM, la pointe est maintenue à une courte distance de la surface.

Contrairement au STM, l'AFM ne mesure pas le courant de tunneling mais mesure uniquement la petite force entre la surface et la pointe.

Il a également été constaté que la résolution AFM est meilleure que la STM. C'est pourquoi l'AFM est largement utilisé en nano-technologie. Lorsque vous parlez de la dépendance entre la force et la distance, l'AFM est plus complexe que le STM.

Lorsque le microscope à tunneling à balayage est normalement applicable aux conducteurs, le microscope à force atomique est applicable aux conducteurs et aux isolateurs. L'AFM convient bien aux environnements liquides et gaziers alors que STM ne fonctionne que dans un vide élevé.

Par rapport à STM, l'AFM donne une mesure de hauteur directe de contraste topographique et de meilleures caractéristiques de surface.

Résumé

1. L'AFM capture des images précises en déplaçant une pointe de taille nanométrique sur la surface de l'image. Le STM capture des images à l'aide de tunneling quantique.

2. La sonde établit un contact direct avec la surface ou calcule la liaison chimique naissante en AFM. Les images STM indirectement en calculant le tunneling de degré quantique entre la sonde et l'échantillon.

3. La pointe en AFM touche la surface touche doucement la surface alors que dans STM, la pointe est maintenue à une courte distance de la surface.

4. La résolution AFM est meilleure que la STM. C'est pourquoi l'AFM est largement utilisé en nano-technologie.

5. Lorsque le microscope à tunneling à balayage est normalement applicable aux conducteurs, le microscope à force atomique est applicable aux conducteurs et aux isolateurs.

6. L'AFM convient bien aux environnements liquides et gaziers alors que STM ne fonctionne que dans un vide élevé.

7. Des deux microscopes, le microscope à tunneling à balayage a été le premier à être développé.